Paweł Szołdruk
27.X.2008
1B
Wstęp
Promieniowanie Rentgenowskie jest to rodzaj promieniowania elektromagnetycznego, o długość fali mieści się w zakresie od 5 pm do 10 nm. Promieniowanie rentgenowskie (promieniowanie X) w widmie promieniowania elektromagnetycznego znajduje się pomiędzy promieniowaniem UV i promieniowaniem γ.
Źródłami promieniowania X są:
Ø lampa rentgenowska: katoda emituje elektrony lub jony, które są następnie przyspieszane i bombardują anodę. Bombardując anodę emitują promieniowanie hamowania. Promieniowanie hamowania to promieniowanie X o ciągłym widmie energetycznym.
Ø Wzbudzenie atomów pierwiastków ciężkich (Z > 20) Elektrony wybite z niższych powłok zostawiają „dziury”, które następnie są zapełnianie przez elektrony z wyższych poziomów energetycznych. Atomy te obniżają swoją energię emitując promieniowanie X. Energie i natężenie promieniowania są ściśle określone dla każdego pierwiastka.
Metoda PIXE (od ang. Proton Induced X ray Emission) polega na pomiarze promieniowania X emitowanego przez wzbudzone atomy. Protony bombardujące próbkę wzbudzają w niej charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie. Mierząc natężenie linii charakterystycznych dla danego pierwiastka, możemy określić jego zawartość w materiale próbki. Metoda ta pozwala na równoczesne wykrywanie bardzo małych domieszek różnych pierwiastków. Można tym sposobem oznaczyć ślady pierwiastków ciężkich w substancjach organicznych itp. (zbudowanych głównie z pierwiastków lekkich). W praktyce, ilościową ocenę zawartości pierwiastków można przeprowadzić tylko dla pierwiastków o masie atomowej większej od 20 jednostek masy atomowej. Zawartości lżejszych pierwiastków łatwiej wyznaczać przez obserwację promieniowania gamma powstającego ze wzbudzeń wewnętrznej struktury jąder atomowych(PIGE).
Zastosowań metody PIXE jest dużo np.:
Ø do nieniszczącej analizy obiektów artystycznych,
Ø do analizy chemicznej znalezisk archeologicznych (bez konieczności pobierania próbek)
Ø do identyfikacji sekwencji warstw w obrazach, dostarcza informacji o warstwach powierzchniowych (często grubości kilku mikrometrów) i pozwala na prowadzenie bezpiecznych badań, nie grożących uszkodzeniem badanych obiektów.
Metoda PIXE jest używana w zagadnieniach ochrony środowiska, w biologii, medycynie, geologii, rolnictwie i w badaniach materiałowych. Jest czuła oraz nie powoduje zniszczenia analizowanego materiału.
Do pomiarów emitowanego promieniowania X używa się spektrometru półprzewodnikowego.
Ø Uruchomiono aparaturę elektroniczną i zapoznano się z obsługą programu komputerowego,
Ø Skalibrowano analizator za pomocą źródła promieniowania X o znanych energiach,
Ø Przeprowadzono pomiar widma promieniowania X emitowanego przez nieznane próbki,
Ø Odczytano energie zarejestrowanego promieniowania przy pomocy programu NIC i zapisano wyniki w tabeli,
Ø Pomiar widm wykonano dla trzech próbek.
Ø Porównano wyniki z wartościami tablicowymi a następnie zidentyfikowano badane pierwiastki.
nr piku
nr kanału
energia piku
natężenie piku
wartość tablicowa
uwagi
1
252,0
24,13
142
24,21
49In
2
284
27,27
123
3
578,8
56,24
192
52,28
73Ta
4
591,2
57,45
259
57,53
5
668,4
65,04
154
65,2
6
687,5
66,92
59
67
7
767,2
74,75
408
74,82
83Bi
8
790,6
77,05
582
77,11
9
893,1
87,11
231
87,34
10
919,9
89,75
56
89,9
241,5
23,10
278
23,17
48Cd
251,61
24,09
138
24,2
272,4
26,13
120
26,32
283,1
27,18
88
eko